太陽(yáng)組件測(cè)試儀 XJCM-13A+
第13代大面積太陽(yáng)電池組件測(cè)試儀為下打光反射式結(jié)構(gòu)，設(shè)備占地面積小，操作便捷，A+A+A+級(jí)光源配置；滿足300-1200nm全光譜，脈沖寬度10ms至100ms可調(diào)。
測(cè)試對(duì)象：適用于普通太陽(yáng)晶硅組件(PERC、N型、IBC以及HIT等)電性能參數(shù)的測(cè)試，同時(shí)兼容MBB、半片、疊片等組件的測(cè)試。
主要技術(shù)參數(shù)
| 型號(hào) | XJCM-13A系列 |
|---|---|
| 有效測(cè)試面積 | 2600mm×1500mm |
| 脈沖寬度 | 10-100ms |
| 光譜范圍 | 300nm-1200nm |
| 光源等級(jí) | A+A+A+ |
| 光譜匹配表 | 0.875-1.125(A+級(jí)) |
| 輻照均勻度 | < 1%(A+) |
| 輻照長(zhǎng)期不穩(wěn)定度 | <0.5%(A+) |
| 重復(fù)性 | <0.1% |
| 輻照度范圍 | 200-1200w/㎡ |